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助力設(shè)備升級改造，譜光慧聯(lián)顯微角分辨光譜技術(shù)

發(fā)布時(shí)間：

2025-06-10 13:48

顯微角分辨光譜系統(tǒng)（Micro-Angle-Resolved Spectroscopy Systems, MARSS）是一種先進(jìn)的光學(xué)測量工具，它結(jié)合了顯微鏡和角分辨光譜技術(shù)的優(yōu)勢用于研究材料的光學(xué)性質(zhì)和結(jié)構(gòu)特征。其面向研究方向和需求非常廣泛，包括（但不限于）：

高分辨率成像需求

隨著納米科學(xué)和技術(shù)的快速發(fā)展，對材料結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的研究越來越依賴于能夠提供高空間分辨率信息的技術(shù)。顯微角分辨光譜系統(tǒng)能夠在微觀尺度上對樣品進(jìn)行光譜和光學(xué)性質(zhì)的精細(xì)測量，滿足了這一需求。

復(fù)雜材料系統(tǒng)的表征

許多先進(jìn)材料和器件，如二維材料、光子晶體、和異質(zhì)結(jié)等，具有復(fù)雜的微觀結(jié)構(gòu)和豐富的物理現(xiàn)象。傳統(tǒng)的光學(xué)測量方法往往無法提供足夠的信息來全面理解這些系統(tǒng)。比如光子晶體是具有周期性介電常數(shù)變化的結(jié)構(gòu)，它們能夠影響光的傳播特性，形成光子帶隙，阻止特定頻率范圍內(nèi)的光通過。顯微角分辨光譜系統(tǒng)對于光子晶體的研究極為重要，因?yàn)樗梢裕和ㄟ^角分辨光譜分析，可以精確確定光子晶體的帶隙特性，包括帶隙的位置和寬度，這對設(shè)計(jì)具有特定光學(xué)性質(zhì)的光子晶體至關(guān)重要；光子晶體中的局部缺陷對其光學(xué)性質(zhì)有顯著影響，顯微角分辨光譜系統(tǒng)能夠在微觀層面上檢測和分析這些缺陷態(tài)，為光子晶體的優(yōu)化提供依據(jù)；通過角分辨測量，研究光在光子晶體中的傳播、反射和透射行為，進(jìn)一步理解材料的光學(xué)特性。顯微角分辨光譜系統(tǒng)能夠提供更為詳細(xì)的光學(xué)和結(jié)構(gòu)信息，有助于深入理解材料的性質(zhì)。

精確的光學(xué)特性測量

在材料科學(xué)、光電工程和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域，對材料的光學(xué)特性進(jìn)行精確測量是理解和應(yīng)用材料性質(zhì)的關(guān)鍵。顯微角分辨光譜系統(tǒng)能夠幫助研究人員精確測量超表面對入射光波的相位和振幅調(diào)控能力，這對于設(shè)計(jì)和優(yōu)化超表面結(jié)構(gòu)至關(guān)重要。超表面的設(shè)計(jì)往往涉及對光的偏振態(tài)進(jìn)行精細(xì)控制，顯微角分辨光譜系統(tǒng)能夠測量偏振相關(guān)的光譜特性，為理解和利用這些效應(yīng)提供必要的信息。超表面可實(shí)現(xiàn)多種光學(xué)效應(yīng)的集成和對外界刺激的響應(yīng)。顯微角分辨光譜系統(tǒng)通過對不同角度和波長下的光學(xué)響應(yīng)進(jìn)行分析，幫助優(yōu)化其功能性設(shè)計(jì)。

總的來說，顯微角分辨光譜系統(tǒng)為光子晶體、超表面以及極化激元等領(lǐng)域的科學(xué)研究和技術(shù)開發(fā)提供了強(qiáng)大的測試和分析工具，是理解這些復(fù)雜光學(xué)現(xiàn)象和設(shè)計(jì)先進(jìn)光學(xué)器件的必備設(shè)備。

譜光慧聯(lián)推出的Excipolar Trion KSP 顯微角分辨光譜系統(tǒng)具有如下優(yōu)勢：

通過對比可以發(fā)現(xiàn)，譜光慧聯(lián)功能齊全強(qiáng)大，具有角分辨光譜采集功能的同時(shí)，還能兼顧共焦顯微拉曼/熒光光譜功能；Excipolar Trion KSP角分辨顯微光譜系統(tǒng)結(jié)合顯微拉曼、熒光、透反射及偏振等一系列光學(xué)測量技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn)動量空間+位置空間+自旋維度+頻率分布等多維度分辨光譜。

譜光慧聯(lián)角分辨光譜系統(tǒng)的角度分辨率更高，角度分辨能力更強(qiáng)?；诖髷?shù)值孔徑平場復(fù)消色差物鏡，收集超過120°的角向輻射光譜；更高的角度分辨率0.3°，顯著提升光譜分析能力；發(fā)光角度-發(fā)光頻率二維成像，一次性快速獲取不同角度下的光譜信息。

譜光慧聯(lián)角分辨光譜系統(tǒng)拓展實(shí)現(xiàn)了近紅外波段的角分辨光譜采集功能，支持紫外-可見-近紅外寬譜波段的全覆蓋光譜采集。

譜光慧聯(lián)角分辨光譜系統(tǒng)的擴(kuò)展性強(qiáng)，專為應(yīng)用導(dǎo)向設(shè)計(jì)的系統(tǒng)，可兼容市場上主流的擴(kuò)展平臺，滿足磁場、電場、高壓、低溫多物理場測試需求。

應(yīng)用案例

主要應(yīng)用

1. 新材料（揭示超材料、超表面、微納光學(xué)結(jié)構(gòu)的形貌周期尺寸和光場調(diào)控效果）

2. 物理（揭示光子晶體、光學(xué)微腔、SPP等樣品體系的光學(xué)色散和光物質(zhì)相互作用性質(zhì)）

3. 測試平臺、半導(dǎo)體（表征陣列結(jié)構(gòu)、光柵、光波導(dǎo)器件的周期性結(jié)構(gòu)參數(shù)及缺陷排查）

案例

1. 新材料

觀測超表面和微納光學(xué)結(jié)構(gòu)的形貌周期尺寸、模場分布成像，驗(yàn)證結(jié)構(gòu)的光場調(diào)控效果。